1. Computed electron micrographs and defect identification
پدیدآورنده: By A. K. Head, P. Humble, L. M. Clarebrough, a.o
کتابخانه: كتابخانه پردیس علوم دانشگاه تهران (تهران)
موضوع: Data processing ، Metals -- Defects,Data processing ، Electron microscopy
رده :
QD
921
.
C62
2. Computed electron micrographs and defect identification
پدیدآورنده: By A.K. Head, P. Humble, L.M. Clarebrough, a.o.
کتابخانه: مرکز و کتابخانه مطالعات اسلامی به زبانهای اروپایی (قم)
موضوع: Electron microscopy-- Data processing.,Metals-- Defects-- Data processing.,cristallographie.,diffraction.,dislocation.,identification défaut.,physique.,Cristallographie-- Informatique.,Cristaux-- Défauts.,Électrons-- Diffraction.,Computersimulaties.,Electron microscopy-- Data processing.,Elektronendiffractie.,Elektronenmicroscopie.,Metall.,Metals-- Defects-- Data processing.,Mikrostruktur.,Roosterfouten.,SCIENCE-- Physics-- Crystallography.,Vastestoffysica.
